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 Ingénieurs, Techniciens Supérieurs, Techniciens. |
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 Proposer aux participants les deux aspects importants de la spectrométrie plasma ICP. Présenter les avantages et les limites des ICP-MS et ICP-AES en insistant sur l’apport de la MS dans le domaine de l’analyse de traces et de l’analyse isotopique. Proposer et expliquer les outils classiques de diagnostics en ICP - AES et ICP - MS qui permettent une analyse fiable. Aborder les avancées technologiques en spectrométrie ICP - MS : cellules de collisions/réactions. |
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| THEORIE • Les plasmas : Notions sur les plasmas de type ICP en tant que source d’ions et source de photons La spectrométrie AES (Atomique Emission Spectroscopy): instrumentation (séparation et détection des longueurs d’ondes) - avantages et limitations La spectrométrie de masse : quadripole/haute résolution/cellules de collisions - avantages et limitations • La quantification Aspect quantitatif et semi quantitatif des deux techniques Etalonnage externe, interne et méthode des ajouts dosés en spectrométrie ICP/AES Etalonnage et dilution isotopique en spectrométrie ICP/MS • Analyse de traces • Spéciation DEMONSTRATIONS AU LABORATOIRE Aspects qualitatifs et quantitatifs en ICP/AES Limites de détection (LODs) Etalonnage interne Présentation des outils de diagnostic permettant une analyse fiable ICP/MS avec quadripole (avec ou sans cellule) Haute résolution |
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Pour tout
renseignement complémentaire ou inscription : Michel VIVIER - CPE Lyon Formation Continue - 31, place Bellecour - 69 002 Lyon Tél : 04 72 32 50 60 - Fax : 04 72 32 51 29 E-mail: contact@cpe-formation.fr |
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